面向Beyond5G/ADAS應用場景評估分析頻率特性的解決方案

       這是Advantest太赫茲光學采樣分析系統(tǒng)的一個選項。它適用于評估無線電波吸收器、印刷電路板材料、聚合物材料等的頻率特性，這些材料是下一代無線通信技術（后5G/6G）和用于ADAS（高級駕駛員輔助系統(tǒng)）的毫米波雷達所*的。可評估毫米波至太赫茲波段，各種材料的傳輸特性（透射率、反射率）和復介電常數(shù)。

     通常在評估各種材料在毫米波和高頻段區(qū)域的傳輸特性（透射率、反射率）和復介電常數(shù)的時候我們會用到矢量網(wǎng)絡分析儀 (VNA)* ，而如今隨著5G技術的廣泛應用和衍生技術的迭代更新，對于在更寬的帶寬上評估這些特性的需求變得更為迫切。同時在使用VNA評估這些特性時需要設置和校準每個頻段，故此帶來的時間和精力消耗引發(fā)了一系列的問題。

      TAS7400TS太赫茲光學采樣分析系統(tǒng)新增高分辨率配件。新配件為無線電波吸收材料和基材的高頻特性評估提供了開創(chuàng)性的測量方法，這對于后5G / 6G的下一代通信技術和ADAS（高級駕駛輔助系統(tǒng)）中使用的毫米波雷達技術而言是很重要的。

   在新配件的加持下，用戶可以通過使用緊湊的光學采樣系統(tǒng)獲得的更具優(yōu)勢的測量環(huán)境進行測量，從而節(jié)省成本和空間。此外，TAS7400TS的掃描測量配件可以分析表面頻率特性，而此次新配件的頻率分辨率和掃描速度是以前產(chǎn)品的5倍，使其成為了評估新材料高頻特性的*佳解決方案。

              系統(tǒng)配置建議（30 GHz 至2 THz）

可利用緊湊型設備來測定從毫米波到太赫茲波的電磁特性

● 實現(xiàn)380MHz高頻率分辨率

● 不需要VNA那樣切換掃頻波段，一次實現(xiàn)寬帶寬 （30GHz~2THz） 的測定

● 40ms的掃描速度對寬帶寬進行掃描

● 系統(tǒng)配有透射/反射測量模塊，更容易校準設備

● 通過遠程編程功能就能實現(xiàn)二維掃描測量

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矢量網(wǎng)絡分析儀（VNA）是通過測量網(wǎng)絡各個端口對頻率/功率掃描測試信號的幅度與相位響應，從而測量器件網(wǎng)絡特性的儀器，它結合了頻譜分析，信號發(fā)生以及信號分離等各項技術。應用于芯片測試，微波器件，材料科學，電子通信等基礎性行業(yè)和領域。

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